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Nanofilm: Caracterización de Superficies y Láminas Delgadas

Desde la introducción del “Microscopio de Ángulo Brewster BAM1” 1991, Nanofilm se ha convertido en el líder de la Microscopía de Ángulo Brewster, Elipsometría de Imagen y la Reflectometría UV/VIS.
Ofrecemos la instrumentación y herramientas para el análisis óptico de superficies de monocapas y láminas delgadas de recubrimiento en interfases agua/aire, líquido/líquido, sólido/líquido y gas/sólido.

Microscopios de Ángulo Brewster

Brewster Angle Microscopes
Brewster Angle Microscopes
Caracterización y toma de imágenes de manocapas en a interfase agua/aire...
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Elipsómetro de Imagen

Imaging Ellipsometer
Imaging Ellipsometer
Combinación de Elipsometría de Anulación y microscopía – Elipsometría con una resolución lateral inferior a 1µm.
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Reflectómetro UV/VIS

UV VIS Reflectometer
UV VIS Reflectometer
Estudio de la orientación, asociación, adsorción y los cambios químicos de cromóforos.
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