• English
  • Español
  • China

nanofilm_ep3se

Imaging spectroscopic ellipsometer nanofilm_ep3seEl siguiente paso hacía la Elipsometría de imagen con EP³-SE.

El EP³-SE es el único Elipsómetro espectroscópico de imagen disponible en el mercado. Ofrece una mayor flexibilidad para las medidas con la Elipsometría de Imagen.
-
YouTube
Para una mejor idea del nanofilm_ep3sw, por favor haga clic en la imagen para ver un video corto con algunas descripciones generales

El EP³ permite:

  • análisis con la más alta precisión y exactitud.
  • análisis de sistemas con multi capas/ multiples parámetros
  • seleccinar una longitud de onda apropiada para estudiar materiales absorbentes.
  • obtimizar la sensibilidad cambiando la longitud de onda
Adicionalmente, es posible realizar un mapeo con múltiples longitudes onda de todo el campo de vista (MicroMapping), obteniendo mapas de espesor y/o de índices de refracción. – similar a las fotografías de superficies obtenidas con AFM.
Para cada longitud de onda se puede lograr obtener la más alta resolución lateral disponible, lo que hace del EP³ -SE un instrumento único para las medidas espectroscópicas de muestras microestructuradas.
El Elipsómetro espectroscópico de imagen EP³-SE usa una lámpara de arco de Xenón para obtener hasta 46 longitudes de onda ente 365nm y 1000nm. Para medir muestras con contraste extremadamente bajo (como ADN sobre vidrio o medidas bajo un ambiente líquido) viene incorporada una fuente láser adicional en la configuración estándar.

Nanofilm lo invita a someter una muestra a una evaluación gratis.

Todo lo que usted tiene que hacer es descargar el formato de presentación, diligenciarlo completamente y enviarlo junto con su muestra a alguna de nuestras oficinas.

Características Claves – El EP³-SE está completamente equipado y listo para usor con:

  • Láser 532nm, 15mW (estándar, actualizable)
  • Caja espectroscópica con acoplamiento de fibra óptica
  • Gionometro automático
  • Lámpara de arco de Xenón y 46 filtros
  • Goniómetro automático
  • Armazón abierto
  • Marco de manejo de muestras manual
  • PC y monitor
nanofilm_ep3sw:Single Wavelength Imaging Ellipsometer
nanofilm_ep3se:Spectroscopic Imaging Ellipsometer
Technical integration – AFM:Technical Integration of a Scanning Probe Microscope
Technical integration THz TDS:Technical Integration of a Terahertz Time-Domain
Application package Imaging ellipsometry at the air/water interface:Imaging Ellipsometry at the solid/liquid interface
application package SPR:Imaging SPR in the ellipsometric mode